FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。

FEl Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業研究環境中的高級研究與分析。

產品特點:

●更好的圖像數據:

配備同步多重信號檢測的高通量STEM 成像可實現更好的對比度，

●從而可提供高質量圖像

更短的化學成分數據生成時間:

快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級細節

●為擴大應用提供空間:

添加特定于應用的原位樣品桿以開展動態實驗

●更高的穩定性:

采用儀器罩和遠程操作來提高環境***