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瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
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產(chǎn)品詳情
– 一體化設計：
LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
– 單管器件（點測）、模組器件（列表掃描）、曲線掃描(選件)
三種測試方式
– 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一鍵測量及顯示
– 標配2通道，可擴展至6通道，可測單管、多芯或模組器件
– CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
– 電容快速充電技術(shù)，實現(xiàn)快速測試
TH510系列 半導體器件C-V特性分析儀
TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
產(chǎn)品詳情
– 一體化設計：
LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
– 單管器件（點測）、模組器件（列表掃描）、曲線掃描(選件)
三種測試方式
– 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一鍵測量及顯示
– 標配2通道，可擴展至6通道，可測單管、多芯或模組器件
– CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
– 電容快速充電技術(shù)，實現(xiàn)快速測試
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